Abstract：
本发明公开了一种测量空间光调制器相位调制特性的装置及方法，包括激光器和空间光调制器，在激光器和空间光调制器之间依次设置有用于扩束的显微物镜，准直透镜，用于将任意偏振态的光转变为线偏振光的起偏器以及分光镜，分光镜用于透过经起偏器的光，并反射经空间光调制器出来的光束，空间光调制器连接有计算机用于加载组合模式灰度图，计算机连接有用于采集干涉条纹图的CCD相机。本发明采用对空间光调制器加载组合模式灰度图的方式，利用液晶闪耀光栅，增强条纹对比度，自干涉法减小了空气湍流的影响，得到的条纹质量更高，且不需要复杂的光学元件，能准确测量大角度入射范围下空间光调制器的相位调制特性。
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Type： 发明专利
Patent No.： CN201711148131.4
Filing Date： 2017-11-17
Publication Date： 2018-04-20
Pub. No.： CN107941470A
Applicants： 西安交通大学
Legal Status： 在审
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