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本发明公开了一种基于阵列式多次反射的滚转角测量装置及方法，该装置包括双频激光器、1/2波片和两套角锥棱镜阵列；在双频激光器的光轴后设置分光棱镜，分光棱镜的反射光轴上设第一检偏器和第一光电接收器；分光棱镜的透射光轴上设1/4波片；1/2波片位于两套角锥棱镜阵列中间；在两套角锥棱镜阵列的出射光轴上设直角反射棱镜，在直角反射镜的反射光轴上设第二检偏器和第二光电接收器；第一光电接收器和第二光电接收器的输出端连接相位计。本发明将探测元件置于两套角锥棱镜阵列中，从而有效地将用于位移测量的阵列式多次反射法应用于滚转角测量。不仅可克服传统激光干涉法难以测量与激光束方向垂直的滚转角问题，而且与现有技术相比，具有更高滚转角测量分辨率的优点。
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Type： 发明专利
Patent No.： CN201210158310.7
Filing Date： 2012-05-21
Publication Date： 2012-09-05
Pub. No.： CN102654392A
Applicants： 西安交通大学
Legal Status： 有权
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